Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze Jejich první část je věnována fundamentální metrologii pojednává o měřicích škálách soustavě měřicích jednotek SI etalonech elektrických veličin metodách používaných při navazování etalonů chybách měření a nejistotách měření Druhá část je zaměřena na problematiku přesných měření stejnosměrných a nízkofrekvenčních elektrických veličin a seznamuje studenty jednak se speciálními prostředky a zařízeními jejichž používání umožňuje dosahovat vysoké přesnosti měření jednak s vlastními metodami přesného měření aktivních i pasivních elektrických veličin
